IEEE P63195-1:2022 Edition
$82.33
IEEE/IEC International Draft Standard – Measurement procedure for the assessment of power density of human exposure to radio frequency fields from wireless devices operating in close proximity to the head and body – Frequency range of 6 GHz to 300 GHz
Published By | Publication Date | Number of Pages |
IEEE | 2022 | 300 |
New IEEE Standard – Active – Draft.
PDF Catalog
PDF Pages | PDF Title |
---|---|
1 | Front cover |
3 | Title page |
4 | English CONTENTS |
11 | FOREWORD |
13 | INTRODUCTION |
14 | 1 Scope |
15 | 2 Normative references 3 Terms and definitions 3.1 Exposure metrics and parameters |
18 | 3.2 Spatial, physical, and geometrical parameters associated with exposure metrics |
19 | 3.3 Measurement instrumentation, field probe, and data-processing parameters |
22 | 3.4 RF power parameters |
23 | 3.5 Test device technical operating and antenna parameters |
25 | 3.6 Test device physical configurations |
26 | 3.7 Uncertainty parameters |
27 | 4 Symbols and abbreviated terms 4.1 Symbols 4.1.1 Physical quantities |
28 | 4.1.2 Constants 4.2 Abbreviated terms |
29 | 5 Quick start guide and application of this document 5.1 Quick start guide |
30 | Tables Table 1 – Evaluation plan check-list |
31 | Figures Figure 1 – Quick Start Guide |
32 | 5.2 Application of this document 5.3 Stipulations 6 Measurement system and laboratory requirements 6.1 General requirements |
33 | 6.2 Laboratory requirements |
34 | 6.3 Field probe requirements 6.4 Measurement instrumentation requirements |
35 | 6.5 Scanning system requirements 6.5.1 Single-probe systems 6.5.2 Multiple field-probe systems |
36 | 6.6 Device holder requirements |
37 | 6.7 Post-processing quantities, procedures, and requirements 6.7.1 Formulas for calculation of sPD |
39 | 6.7.2 Post-processing procedure |
40 | 6.7.3 Requirements Figure 2 – Simplified view of a generic measurement setupinvolving the use of reconstruction algorithms |
41 | 7 Protocol for PD assessment 7.1 General 7.2 Measurement preparation 7.2.1 Relative system check 7.2.2 DUT requirements |
42 | 7.2.3 DUT preparation |
43 | 7.2.4 Selecting evaluation surfaces |
44 | Figure 3 – Cross-sectional view of SAM phantom for SAR evaluationsat the reference plane, as described in IEC/IEEE 62209-1528:2020 Figure 4 – Cross-sectional view of SAM virtual phantom for PD evaluations at the reference plane (shell thickness is 2 mm everywhere, including at the pinna) |
46 | 7.3 Tests to be performed 7.3.1 General Figure 5 – Example reference coordinate system forthe left-ear ERP of the SAM phantom Figure 6 – Example reference points and vertical and horizontal lines on a DUT |
48 | 7.3.2 Tests to be performed when supported by simulations of the antenna array Figure 7 – Flow chart for test procedure in 7.3 |
50 | 7.3.3 Tests to be performed by measurements of the antenna array 7.4 Measurement procedure 7.4.1 General measurement procedure |
51 | 7.4.2 Power density assessment methods Figure 8 – Flow chart for general measurement procedure in 7.4.1 |
52 | Figure 9 – Flow chart for power density assessment methods in 7.4.2 Table 2 – Minimum evaluation distance between the DUT antenna andthe evaluation surface for which the plane wave equivalent approximation applies |
53 | 7.4.3 Power scaling for operating mode and channel |
55 | 7.4.4 Correction for DUT drift |
56 | 7.5 Exposure combining 7.5.1 General |
57 | 7.5.2 Combining power density and SAR results |
59 | Figure 10 – SAR and power density evaluation at a point r Figure 11 – Combining SAR (top) and power density (bottom) for the SAM phantom |
60 | 8 Uncertainty estimation 8.1 General 8.2 Requirements for uncertainty evaluations 8.3 Description of uncertainty models |
61 | 8.4 Uncertainty terms dependent on the measurement system 8.4.1 CAL – Calibration of the measurement equipment 8.4.2 COR – Probe correction 8.4.3 FRS – Frequency response |
62 | 8.4.4 SCC – Sensor cross coupling |
63 | 8.4.5 ISO – Isotropy 8.4.6 LIN – System linearity error 8.4.7 PSC – Probe scattering |
64 | 8.4.8 PPO – Probe positioning offset 8.4.9 PPR – Probe positioning repeatability |
65 | 8.4.10 SMO – Sensor mechanical offset 8.4.11 PSR – Probe spatial resolution 8.4.12 FLD – Field impedance dependence (ratio |E|/|H|) 8.4.13 MED – Measurement drift |
66 | 8.4.14 APN – Amplitude and phase noise 8.4.15 TR – Measurement area truncation 8.4.16 DAQ – Data acquisition 8.4.17 SMP – Sampling 8.4.18 REC – Field reconstruction |
67 | 8.4.19 SNR – Signal-to-noise ratio 8.4.20 TRA – Forward transformation and backward transformation |
68 | 8.4.21 SCA – Power density scaling 8.4.22 SAV – Spatial averaging 8.4.23 COM – Exposure combining 8.5 Uncertainty terms dependent on the DUT and environmental factors 8.5.1 PC – Probe coupling with DUT |
69 | 8.5.2 MOD – Modulation response 8.5.3 IT – Integration time |
70 | 8.5.4 RT – Response time 8.5.5 DH – Device holder influence 8.5.6 DA – DUT alignment 8.5.7 AC – RF ambient conditions 8.5.8 TEM – Laboratory temperature |
71 | 8.5.9 REF – Reflections in laboratory 8.5.10 MSI – Measurement system immunity/secondary reception 8.5.11 DRI – DUT drift 8.6 Combined and expanded uncertainty |
72 | Table 3 – Template of measurement uncertainty for power density measurements |
74 | Table 4 – Example measurement uncertainty budget forpower density measurement results |
75 | 9 Measurement report 9.1 General 9.2 Items to be recorded in measurement reports |
78 | Annex A (normative)Measurement system check and system validation tests A.1 Overview |
79 | A.2 Normalization to total radiated power A.2.1 General A.2.2 Option 1: Accepted power measurement |
80 | Figure A.1 – Recommended accepted power measurement setupfor relative system check, absolute system check and system validation Figure A.2 – Equipment setup for measurement offorward power Pf and forward coupled power Pfc Figure A.3 – Equipment setup for measuringthe shorted reverse coupled power Prcs |
81 | Figure A.4 – Equipment setup for measuring thepower with the reference antenna |
82 | Figure A.5 – Port numbering for the S-parametermeasurements of the directional coupler |
83 | A.2.3 Option 2: Total radiated power measurement Table A.1 – Example of power measurement uncertainty |
84 | A.3 Relative system check A.3.1 Purpose A.3.2 Antenna and test conditions |
85 | A.3.3 Procedure A.3.4 Acceptance criteria |
87 | A.4 Absolute system check A.4.1 Purpose A.4.2 Antenna and test conditions A.4.3 Procedure A.4.4 Acceptance criteria |
88 | A.5 System validation A.5.1 Purpose A.5.2 Procedure |
89 | A.5.3 Validation of modulation response A.5.4 Acceptance criteria Table A.2 – Communication signals for modulation response test |
91 | Annex B (normative)Antennas for system check and system validation tests B.1 General |
92 | B.2 Pyramidal horn antennas for system checks Table B.1 – Target values for pyramidal horn antennas at different frequencies |
93 | B.3 Cavity-fed dipole arrays for system validation B.3.1 Description Table B.2 – Main dimensions for the cavity-fed dipole arraysat each frequency of interest |
94 | Figure B.1 – Main dimensions for the cavity-fed dipole arrays – 30 GHz design |
95 | Table B.3 – Geometrical parameters of the cavity-fed dipole arraysat each frequency of interest Table B.4 – Substrate and metallic block parameters for the cavity-fed dipole arrays at each frequency of interest |
96 | B.3.2 Numerical target values for cavity-fed dipole arrays B.3.3 Field and power density distribution patterns Table B.5 – Target values for the cavity-fed dipole arrays at10 GHz, 30 GHz, 60 GHz, and 90 GHz |
97 | Figure B.2 – 10 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the cavity-fed dipole arrays at distances ofa) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the dielectric substrate |
98 | Figure B.3 – 30 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the cavity-fed dipole arrays at distances ofa) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the dielectric substrate |
99 | Figure B.4 – 60 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the cavity-fed dipole arrays at distances ofa) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the dielectric substrate |
100 | Figure B.5 – 90 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the cavity-fed dipole arrays at distances ofa) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the dielectric substrate |
101 | B.3.4 Far-field radiation patterns |
102 | Figure B.6 – Far-field radiation patterns of a) 10 GHz, b) 30 GHz,c) 60 GHz, and d) 90 GHz cavity-fed dipole arrays |
103 | B.4 Pyramidal horns with slot arrays for system validation B.4.1 Description Figure B.7 – Main dimensions for the 0,15 mm stainless steel stencil with slot array |
104 | Figure B.8 – Main dimensions for the pyramidal horn antennas Table B.6 – Main dimensions for the stencilwith slot array for each frequency |
105 | B.4.2 Numerical target values for pyramidal horns loaded with a slot array Table B.7 – Primary dimensions for the correspondingpyramidal horns at each frequency |
106 | B.4.3 Field and power density distribution patterns Table B.8 – Target values for the pyramidal horns loaded with slot arraysat 10 GHz, 30 GHz, 60 GHz, and 90 GHz |
107 | Figure B.9 – 10 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the pyramidal horn loaded with a slot arrayat distances of a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the slot array |
108 | Figure B.10 – 30 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the pyramidal horn loaded with a slot arrayat distances of a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the slot array |
109 | Figure B.11 – 60 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the pyramidal horn loaded with a slot arrayat distances of a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the slot array |
110 | Figure B.12 – 90 GHz patterns of |Etotal| and Re{S}total for the pyramidal horn loaded with a slot arrayat distances of a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, and d) 50 mm from the upper surface of the slot array |
111 | B.4.4 Far-field radiation patterns |
112 | B.5 Antenna validation procedure B.5.1 General Figure B.13 – Far-field radiation patterns of a) 10 GHz, b) 30 GHz,c) 60 GHz, and d) 90 GHz pyramidal horn loaded with a slot array |
113 | B.5.2 Objectives, scope, and usage specifications B.5.3 Antenna design B.5.4 Numerical targets B.5.5 Reference antennas calibration B.5.6 Antenna verification and life expectation B.5.7 Uncertainty budget considerations |
114 | B.6 Validation procedure for wideband signals B.6.1 General B.6.2 Validation signals B.6.3 Validation antennas and setup B.6.4 Target values for validation antennas transmitting wideband signals B.6.5 Wideband signal uncertainty |
115 | B.6.6 Validation procedure |
116 | Annex C (normative)Calibration and characterization of measurement probes C.1 General C.2 Calibration of waveguide probes C.2.1 General C.2.2 Sensitivity C.2.3 Linearity |
117 | C.2.4 Lower detection limit C.2.5 Isotropy C.2.6 Response time C.3 Calibration for isotropic scalar E-field or H-field probes C.3.1 General C.3.2 Sensitivity C.3.3 Isotropy |
118 | C.3.4 Linearity C.3.5 Lower detection limit C.3.6 Response time C.4 Calibration of phasor E-field or H-field probes C.4.1 General C.4.2 Sensitivity |
119 | C.4.3 Isotropy C.4.4 Linearity C.4.5 Lower detection limit C.5 Calibration uncertainty parameters C.5.1 General C.5.2 Input power to the antenna C.5.3 Mismatch effect (input power measurement) |
120 | C.5.4 Gain and offset distance C.5.5 Signal spectrum C.5.6 Setup stability |
121 | C.5.7 Uncertainty for field impedance variations C.6 Uncertainty budget template Table C.1 – Uncertainty analysis of the probe calibration |
123 | Annex D (informative)Information on use of square or circular shapes for power density averaging area in conformity evaluations D.1 General D.2 Method using computational analysis D.3 Areas averaged with square and circular shapes on planar evaluation surface Figure D.1 – Schematic view of the assessment of the variationof sPD using square shape by rotating AUT (antenna under test) |
124 | Figure D.2 – Comparison of psPD averaged using square versus circular shaped areas on planar evaluation surfaces |
125 | D.4 Areas averaged with square and circular shapes on nonplanar evaluation surface Figure D.3 – Example PD distributions withdevice next to ear evaluation surface Table D.1 – Phase shift values for the array antenna |
126 | Figure D.4 – Comparison of psPD averaged using cube cross-section (square-like) versus sphere cross-section (circular-like) shaped areas fordevice next to ear evaluation surface |
127 | Annex E (informative)Reconstruction algorithms E.1 General E.2 Methodologies to extract local field components and power densities E.2.1 General |
128 | E.2.2 Phase-less approaches E.2.3 Approaches using E-field polarization ellipse measurements E.2.4 Direct near-field measurements |
129 | E.3 Forward transformation (propagation) of the fields E.3.1 General Figure E.1 – Simulation (left) and forward transformation from measurements applying methods described in [29] (right) of power density in the xz-plane (above) and yz-plane (below) at a distance of 2 mm for a cavity-fed dipole array at 30 GHz (see Annex B) |
130 | E.3.2 Field expansion methods E.3.3 Field integral equation methods |
131 | E.4 Backward transformation (propagation) of the fields E.4.1 General E.4.2 Field expansion methods – the plane wave expansion |
132 | E.4.3 Inverse source methods |
133 | E.5 Analytical reference functions Table E.1 – List of analytical reference functionsand associated psPDn+ target values |
134 | Table E.2 – List of analytical reference functionsand associated psPDtot+ target values Table E.3 – List of analytical reference functionsand associated psPDmod+ target values |
135 | Annex F (normative)Interlaboratory comparisons F.1 Purpose F.2 Reference devices F.3 Power setup F.4 Interlaboratory comparison – procedure |
136 | Annex G (informative)PD test and verification example G.1 Purpose G.2 DUT overview G.3 Test system verification G.4 Test setup G.5 Power density results G.6 Combined exposure (Total Exposure Ratio) |
137 | Annex H (informative)Applicability of plane-wave equivalent approximations H.1 Objective H.2 Method H.3 Results |
139 | H.4 Discussion Figure H.1 – psPDpwe / psPDtot as function of distance (in units of λ) from cavity-fed dipole array (CDA##G, left-side) and pyramidal horn with slot arrays (SH##G,right-side) operating at 10 GHz, 30 GHz, 60 GHz, and 90 GHz |
140 | Annex I (informative)Rationales for concepts and methods applied inthis document and IEC/IEEE 63195-2 I.1 Frequency range I.2 Calculation of sPD I.2.1 Application of the Poynting vector for calculation of incident power density |
141 | I.2.2 Averaging area |
142 | Bibliography |
146 | Français SOMMAIRE |
154 | AVANT-PROPOS |
156 | INTRODUCTION |
157 | 1 Domaine d’application |
158 | 2 Références normatives 3 Termes et définitions 3.1 Paramètres et indicateurs d’exposition |
161 | 3.2 Paramètres spatiaux, physiques et géométriques associés aux indicateurs d’exposition |
163 | 3.3 Instrumentation de mesure, sonde de champ et paramètres de traitement des données |
166 | 3.4 Paramètres de puissance RF |
167 | 3.5 Paramètres techniques de fonctionnement et d’antenne du dispositif d’essai |
168 | 3.6 Configurations physiques des dispositifs d’essai |
170 | 3.7 Paramètres d’incertitude |
171 | 4 Symboles et termes abrégés 4.1 Symboles 4.1.1 Grandeurs physiques |
172 | 4.1.2 Constantes 4.2 Termes abrégés |
173 | 5 Guide de démarrage rapide et application du présent document 5.1 Guide de démarrage rapide |
174 | Tableaux Tableau 1 – Liste de vérification du plan d’évaluation |
175 | Figure 1 – Guide de démarrage rapide Untitled |
176 | 5.2 Application du présent document 5.3 Conditions 6 Exigences relatives au système de mesure et au laboratoire 6.1 Exigences générales |
178 | 6.2 Exigences relatives au laboratoire 6.3 Exigences relatives à la sonde de champ |
179 | 6.4 Exigences relatives à l’instrumentation de mesure 6.5 Exigences relatives au système de balayage 6.5.1 Systèmes à sonde unique |
180 | 6.5.2 Systèmes à sonde de champ multiple 6.6 Exigences relatives au support de dispositif |
181 | 6.7 Grandeurs, procédures et exigences relatives au post-traitement 6.7.1 Formules de calcul de la sPD |
183 | 6.7.2 Procédure de post-traitement |
184 | 6.7.3 Exigences Figure 2 – Représentation simplifiée d’un montage de mesure générique impliquant l’utilisation d’algorithmes de reconstruction |
185 | 7 Protocole d’évaluation de la densité de puissance 7.1 Généralités 7.2 Préparation du mesurage 7.2.1 Vérification relative du système 7.2.2 Exigences relatives au DUT |
186 | 7.2.3 Préparation du DUT |
187 | 7.2.4 Choix des surfaces d’évaluation |
189 | Figure 3 – Vue transversale du fantôme SAM pour les évaluations du DAS au niveau du plan de référence, comme cela est décrit dans l’IEC/IEEE 62209-1528:2020 Figure 4 – Vue transversale du fantôme SAM virtuel pour les évaluations de la densité de puissance au niveau du plan de référence (l’épaisseur de l’enveloppe est de 2 mm en tout point, y compris au niveau du pavillon) |
191 | 7.3 Essais à réaliser 7.3.1 Généralités Figure 5 – Exemple de système de coordonnées de référence pour l’ERP gauche du fantôme SAM Figure 6 – Exemple de points de référence et de lignes verticales et horizontales sur un DUT |
193 | 7.3.2 Essais à réaliser en cas de prise en charge par simulations du réseau d’antenne Figure 7 – Logigramme de la procédure d’essai donnée en 7.3 |
195 | 7.3.3 Essais à réaliser par des mesures du réseau d’antenne 7.4 Procédure de mesure 7.4.1 Procédure de mesure générale |
196 | Figure 8 – Logigramme de la procédure de mesure générale donnée en 7.4.1 |
197 | 7.4.2 Méthodes d’évaluation de la densité de puissance |
198 | Tableau 2 – Distance d’évaluation minimale entre l’antenne du DUT et la surface d’évaluation pour laquelle l’approximation de l’onde plane équivalente s’applique Figure 9 – Logigramme des méthodes d’évaluation de la densité de puissance données en 7.4.2 |
199 | 7.4.3 Mise à l’échelle de la puissance selon le mode de fonctionnement et le canal |
201 | 7.4.4 Correction de la dérive du DUT |
202 | 7.5 Combinaison d’expositions 7.5.1 Généralités |
204 | 7.5.2 Combinaison des résultats de la densité de puissance et du DAS |
205 | Figure 10 – Evaluation du DAS et de la densité de puissance en un point r |
206 | Figure 11 – Combinaison du DAS (en haut) et de la densité de puissance (en bas) pour le fantôme SAM 8 Estimation de l’incertitude 8.1 Généralités |
207 | 8.2 Exigences relatives aux évaluations de l’incertitude 8.3 Description des modèles d’incertitude |
208 | 8.4 Termes d’incertitude dépendant du système de mesure 8.4.1 CAL – Etalonnage de l’équipement de mesure (CALibration) 8.4.2 COR – Correction de la sonde 8.4.3 FRS – Réponse en fréquence (Frequency ReSponse) |
209 | 8.4.4 SCC – Couplage croisé de capteurs (Sensor Cross Coupling) |
210 | 8.4.5 ISO – Isotropie 8.4.6 LIN – Erreur de linéarité du système |
211 | 8.4.7 PSC – Diffusion de la sonde (Probe SCattering) 8.4.8 PPO – Décalage de positionnement de la sonde (Probe Positioning Offset) |
212 | 8.4.9 PPR – Répétabilité du positionnement de la sonde (Probe Positioning Repeatability) |
213 | 8.4.10 SMO – Décalage mécanique du capteur (Sensor Mechanical Offset) 8.4.11 PSR – Résolution spatiale de la sonde (Probe Spatial Resolution) 8.4.12 FLD – Influence de l’impédance de champ (FieLD impedance dependence) (rapport |E|/|H|) 8.4.13 MED – Dérive de mesure (MEasurement Drift) |
214 | 8.4.14 APN – Bruit d’amplitude et de phase (Amplitude and Phase Noise) 8.4.15 TR – Troncature de la zone de mesure 8.4.16 DAQ – Acquisition de données (Data AcQuisition) 8.4.17 SMP – Echantillonnage (SaMPling) 8.4.18 REC – Reconstruction de champ |
215 | 8.4.19 SNR – Rapport signal sur bruit (Signal to Noise Ratio) 8.4.20 TRA – Transformation directe et transformation inverse |
216 | 8.4.21 SCA – Mise à l’échelle de la densité de puissance (SCaling) 8.4.22 SAV – Moyennage spatial (Spatial AVeraging) 8.4.23 COM – Combinaison d’expositions 8.5 Termes d’incertitude dépendant du DUT et des facteurs environnementaux 8.5.1 PC – Couplage de la sonde avec le DUT (Probe Coupling) |
217 | 8.5.2 MOD – Réponse en modulation |
218 | 8.5.3 IT – Temps d’intégration (Integration Time) 8.5.4 RT – Temps de réponse (Response Time) 8.5.5 DH – Influence du support de dispositif (Device Holder influence) 8.5.6 DA – Alignement du DUT (DUT Alignment) |
219 | 8.5.7 AC – Conditions radiofréquences ambiantes (RF Ambient Conditions) 8.5.8 TEM – Température du laboratoire 8.5.9 REF – Réflexions dans le laboratoire 8.5.10 MSI – Immunité du système de mesure/réception secondaire (Measurement System Immunity) 8.5.11 DRI – Dérive du DUT (DRIft) |
220 | 8.6 Incertitude composée et élargie |
221 | Tableau 3 – Modèle d’incertitude de mesure pour les mesures de la densité de puissance |
222 | Tableau 4 – Exemple de bilan d’incertitudes de mesure pour les résultats de mesure de la densité de puissance |
223 | 9 Rapport de mesure 9.1 Généralités 9.2 Eléments à enregistrer dans les rapports de mesure |
227 | Annexe A (normative)Vérification du système de mesure et essais de validation du système A.1 Vue d’ensemble |
228 | A.2 Normalisation en fonction de la puissance totale rayonnée A.2.1 Généralités A.2.2 Option 1: Mesure de la puissance acceptée |
229 | Figure A.1 – Montage de mesure de la puissance acceptée recommandé pour la vérification relative du système, la vérification absolue du système et la validation du système Figure A.2 – Configuration de l’équipement pour la mesure de la puissance incidente Pf et de la puissance couplée incidente Pfc |
230 | Figure A.3 – Configuration de l’équipement pour la mesure de la puissance couplée inverse en court-circuit Prcs Figure A.4 – Configuration de l’équipement pour la mesure de la puissance avec l’antenne de référence |
232 | Tableau A.1 – Exemple d’incertitude de mesure de la puissance Figure A.5 – Numérotation des accès pour les mesures du paramètre S du coupleur directif |
233 | A.2.3 Option 2: Mesure de la puissance totale rayonnée A.3 Vérification relative du système A.3.1 Objet |
234 | A.3.2 Antenne et conditions d’essai A.3.3 Procédure A.3.4 Critères d’acceptation |
236 | A.4 Vérification absolue du système A.4.1 Objet A.4.2 Antenne et conditions d’essai A.4.3 Procédure |
237 | A.4.4 Critères d’acceptation A.5 Validation du système A.5.1 Objet |
238 | A.5.2 Procédure A.5.3 Validation de la réponse en modulation |
239 | Tableau A.2 – Signaux de communication pour l’essai de réponse en modulation A.5.4 Critères d’acceptation |
241 | Annexe B (normative)Antennes pour la vérification du système et les essais de validation du système B.1 Généralités |
242 | Tableau B.1 – Valeurs cibles pour les antennes cornets pyramidales à différentes fréquences B.2 Antennes cornets pyramidales pour les vérifications du système |
243 | Tableau B.2 – Dimensions principales des réseaux de dipôles alimentés par cavité pour chaque fréquence d’intérêt B.3 Réseaux de dipôles alimentés par cavité pour la validation du système B.3.1 Description |
244 | Figure B.1 – Dimensions principales des réseaux de dipôles alimentés par cavité – Modèle à 30 GHz |
245 | Tableau B.3 – Paramètres géométriques des réseaux de dipôles alimentés par cavité pour chaque fréquence d’intérêt Tableau B.4 – Paramètres du substrat et du bloc métallique des réseaux de dipôles alimentés par cavité pour chaque fréquence d’intérêt |
246 | Tableau B.5 – Valeurs cibles pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité à 10 GHz, 30 GHz, 60 GHz et 90 GHz B.3.2 Valeurs numériques cibles pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité B.3.3 Modèles de distribution du champ et de la densité de puissance |
247 | Figure B.2 – Modèles 10 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité aux distances dea) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du substrat diélectrique |
248 | Figure B.3 – Modèles 30 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité aux distances dea) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du substrat diélectrique |
249 | Figure B.4 – Modèles 60 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité aux distances dea) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du substrat diélectrique |
250 | Figure B.5 – Modèles 90 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour les réseaux de dipôles alimentés par cavité aux distances dea) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du substrat diélectrique |
251 | B.3.4 Diagrammes de rayonnement en champ lointain |
252 | Figure B.6 – Diagrammes de rayonnement en champ lointain de réseaux de dipôles alimentés par cavité à a) 10 GHz, b) 30 GHz, c) 60 GHz et d) 90 GHz |
253 | B.4 Cornets pyramidaux à réseaux de fentes rayonnantes pour la validation du système B.4.1 Description Figure B.7 – Dimensions principales du gabarit en acier inoxydable de 0,15 mm avec réseau de fentes rayonnantes |
254 | Tableau B.6 – Dimensions principales du gabarit avec réseau de fentes rayonnantes pour chaque fréquence Figure B.8 – Dimensions principales des antennes cornets pyramidales |
255 | Tableau B.7 – Dimensions primaires des cornets pyramidaux correspondants pour chaque fréquence B.4.2 Valeurs numériques cibles pour les cornets pyramidaux chargés d’un réseau de fentes rayonnantes |
256 | Tableau B.8 – Valeurs cibles pour les cornets pyramidaux chargés de réseaux de fentes rayonnantes à 10 GHz, 30 GHz, 60 GHz et 90 GHz B.4.3 Modèles de distribution du champ et de la densité de puissance |
257 | Figure B.9 – Modèles 10 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour le cornet pyramidal chargé d’un réseau de fentes rayonnantes aux distances de a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du réseau de fentes rayonnantes |
258 | Figure B.10 – Modèles 30 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour le cornet pyramidal chargé d’un réseau de fentes rayonnantes aux distances de a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du réseau de fentes rayonnantes |
259 | Figure B.11 – Modèles 60 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour le cornet pyramidal chargé d’un réseau de fentes rayonnantes aux distances de a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du réseau de fentes rayonnantes |
260 | Figure B.12 – Modèles 90 GHz de |Etotal| et Re{S}total pour le cornet pyramidal chargé d’un réseau de fentes rayonnantes aux distances de a) 2 mm, b) 5 mm, c) 10 mm, et d) 50 mm de la surface supérieure du réseau de fentes rayonnantes |
261 | B.4.4 Diagrammes de rayonnement en champ lointain |
262 | B.5 Procédure de validation de l’antenne B.5.1 Généralités Figure B.13 – Diagrammes de rayonnement en champ lointain d’un cornet pyramidal à a) 10 GHz, b) 30 GHz, c) 60 GHz et d) 90 GHz chargé d’un réseau de fentes rayonnantes |
263 | B.5.2 Objectifs, domaine d’application et spécifications d’usage B.5.3 Conception de l’antenne B.5.4 Cibles numériques B.5.5 Etalonnage des antennes de référence B.5.6 Vérification des antennes et espérance de vie |
264 | B.5.7 Considérations relatives au bilan d’incertitudes B.6 Procédure de validation pour les signaux à large bande B.6.1 Généralités B.6.2 Signaux de validation B.6.3 Antennes et configuration de validation B.6.4 Valeurs cibles des antennes de validation émettant des signaux à large bande |
265 | B.6.5 Incertitude relative au signal à large bande B.6.6 Procédure de validation |
266 | Annexe C (normative)Etalonnage et caractérisation des sondes de mesure C.1 Généralités C.2 Etalonnage des sondes à guide d’ondes C.2.1 Généralités C.2.2 Sensibilité |
267 | C.2.3 Linéarité C.2.4 Limite de détection inférieure C.2.5 Isotropie C.2.6 Temps de réponse C.3 Etalonnage des sondes scalaires isotropes de champ E ou de champ H C.3.1 Généralités C.3.2 Sensibilité |
268 | C.3.3 Isotropie C.3.4 Linéarité C.3.5 Limite de détection inférieure C.3.6 Temps de réponse C.4 Etalonnage des sondes de phaseur de champ E ou de champ H C.4.1 Généralités |
269 | C.4.2 Sensibilité C.4.3 Isotropie C.4.4 Linéarité C.4.5 Limite de détection inférieure |
270 | C.5 Paramètres relatifs à l’incertitude de l’étalonnage C.5.1 Généralités C.5.2 Puissance d’entrée de l’antenne C.5.3 Effet de désadaptation (mesure de la puissance d’entrée) C.5.4 Gain et distance de décalage |
271 | C.5.5 Spectre du signal C.5.6 Stabilité de la configuration C.5.7 Incertitude relative aux variations d’impédance de champ |
272 | Tableau C.1 – Analyse de l’incertitude de l’étalonnage de la sonde C.6 Modèle de bilan d’incertitudes |
274 | Annexe D (informative)Informations sur l’utilisation d’une forme carrée ou d’une forme circulaire pour la zone de moyennage de la densité de puissance dans le cadre des évaluations de conformité D.1 Généralités D.2 Méthode utilisant l’analyse computationnelle Figure D.1 – Vue schématique de l’évaluation de la variation de la sPD avec une forme carrée en faisant pivoter l’antenne en essai |
275 | D.3 Zones de moyennage de forme carrée et de forme circulaire sur une surface d’évaluation plane |
276 | Figure D.2 – Comparaison de la psPD moyennée à l’aide de zones de forme carrée par rapport à celle moyennée à l’aide de zones de forme circulaire sur des surfaces d’évaluation planes |
277 | Tableau D.1 – Valeurs de modulation de phase pour l’antenne en réseau D.4 Zones de moyennage de forme carrée et de forme circulaire sur une surface d’évaluation non plane Figure D.3 – Exemples de distributions de la PD dans une surface d’évaluation où le dispositif est tenu près de l’oreille |
278 | Figure D.4 – Comparaison de la psPD moyennée en utilisant une zone en forme de section transversale de cube (carrée) par rapport à une zone en forme de section transversale de sphère (circulaire) comme surface d’évaluation où le dispositif est tenu près de l’oreille |
279 | Annexe E (informative)Algorithmes de reconstruction E.1 Généralités E.2 Méthodes d’extraction des composantes de champ et des densités de puissance locales E.2.1 Généralités |
280 | E.2.2 Approches sans la phase E.2.3 Approches utilisant les mesures des ellipses de polarisation du champ E E.2.4 Mesures directes en champ proche |
281 | E.3 Transformation (propagation) directe des champs E.3.1 Généralités Figure E.1 – Simulation (à gauche) et transformation directe à partir de mesures en appliquant les méthodes décrites dans [29] (à droite) de la densité de puissance dans le plan xz (en haut) et le plan yz (en bas) à une distance de 2 mm pour un réseau de dipôles alimenté par cavité à 30 GHz (voir Annexe B) |
282 | E.3.2 Méthodes d’expansion de champ E.3.3 Méthodes utilisant des équations intégrales de champ |
283 | E.4 Transformation (propagation) inverse des champs E.4.1 Généralités |
284 | E.4.2 Méthodes d’expansion de champ – expansion en onde plane E.4.3 Méthodes de source inverse |
285 | E.5 Fonctions analytiques de référence |
286 | Tableau E.1 – Liste des fonctions analytiques de référence et des valeurs cibles de psPDn+ associées Tableau E.2 – Liste des fonctions analytiques de référence et des valeurs cibles de psPDtot+ associées |
287 | Tableau E.3 – Liste des fonctions analytiques de référence et des valeurs cibles de psPDmod+ associées |
288 | Annexe F (informative)Comparaisons interlaboratoires F.1 Objet F.2 Dispositifs de référence F.3 Configuration d’alimentation F.4 Comparaisons interlaboratoires – procédure |
289 | Annexe G (informative)Exemple d’essai et de vérification de la densité de puissance G.1 Objet G.2 Présentation du DUT G.3 Vérification du système d’essai G.4 Montage d’essai G.5 Résultats de densité de puissance G.6 Exposition combinée (rapport d’exposition totale) |
290 | Annexe H (informative)Applicabilité des approximations d’onde plane équivalente H.1 Objectif H.2 Méthode |
291 | H.3 Résultats |
292 | H.4 Discussion Figure H.1 – psPDpwe / psPDtot comme fonction de la distance (en unités de λ) entre le réseau de dipôles alimenté par cavité (CDA##G, côté gauche) et le cornet pyramidal avec réseaux de fentes rayonnantes (SH##G, côté droit) fonctionnant à 10 GHz, 30 GHz, 60 GHz et 90 GHz |
293 | Annexe I (informative)Justifications des concepts et méthodes appliqués dans le présent document et l’IEC/IEEE 63195-2 I.1 Plage de fréquences I.2 Calcul de la sPD I.2.1 Application du vecteur de Poynting pour le calcul de la densité de puissance incidente |
294 | I.2.2 Zone de moyennage |
295 | Bibliographie |