Shopping Cart

No products in the cart.

31.080.30 - Transistors

Showing 1–16 of 90 results

  • JIS C 7032:1993

    JIS C 7032:1993

    General rules for transistors Published By Publication Date Number of Pages JIS 1993-03-01 19

    $10.00 Add to cart
  • JIS C 7030:1993

    JIS C 7030:1993

    Measuring methods for transistors Published By Publication Date Number of Pages JIS 1993-02-01 101

    $38.00 Add to cart
  • IEC 63284:2022

    IEC 63284:2022

    Semiconductor devices – Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors Published…

    $17.00 Add to cart
  • IEC 63275-2:2022

    IEC 63275-2:2022

    Semiconductor devices – Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors…

    $10.00 Add to cart
  • IEC 63275-1:2022

    IEC 63275-1:2022

    Semiconductor devices – Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors…

    $17.00 Add to cart
  • IEC 62899-503-3:2021

    IEC 62899-503-3:2021

    Printed electronics – Part 503-3: Quality assessment – Measuring method of contact resistance for the…

    $17.00 Add to cart
  • IEC 62899-503-1:2020

    IEC 62899-503-1:2020

    Printed electronics – Part 503-1: Quality assessment – Test method of displacement current measurement for…

    $17.50 Add to cart
  • IEC 62417:2010

    IEC 62417:2010

    Dispositifs à semiconducteurs – Essais d’ions mobiles pour transistors à semiconducteur à oxyde métallique à…

    $5.50 Add to cart
  • IEC 62416:2010

    IEC 62416:2010

    Semiconductor devices – Hot carrier test on MOS transistors Published By Publication Date Number of…

    $10.50 Add to cart
  • IEC 62373:2006

    IEC 62373:2006

    Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ-métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) Published…

    $17.50 Add to cart
  • IEC 62373-1:2020

    IEC 62373-1:2020

    Dispositifs à semiconducteurs – Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet…

    $33.50 Add to cart
  • IEC 60747-9:2019

    IEC 60747-9:2019

    Semiconductor devices – Part 9: Discrete devices – Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) Published By Publication…

    $56.00 Add to cart
  • IEC 60747-9:2007

    IEC 60747-9:2007

    Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 9: Transistors bipolaires à grille isolée (IGBT)…

    $56.00 Add to cart
  • IEC 60747-8:2010

    IEC 60747-8:2010

    Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs décrets – Partie 8 : transistors à effet de champ…

    $56.00 Add to cart
  • IEC 60747-8-3:1995

    IEC 60747-8-3:1995

    Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 8: Transistors à effet de champ –…

    $25.50 Add to cart
  • IEC 60747-8-4:2004

    IEC 60747-8-4:2004

    Dispositifs discrets à semiconducteurs – Partie 8-4: Transistors à semiconducteurs à oxyde métallique à effet…

    $56.00 Add to cart